LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求,是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述:

大图解屏幕48 mm x 24 mm,有背景灯

校准选项

出厂时已校准，立即可用

在未知涂层上校准

零校准

在无涂层的基体上一点和多点校准

在有涂层的基体上校准

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中，也可以随时调出

可选择的显示模式，以佳形式去完成测量任务

输入和极限监视*

在Windows下有简单的存储读数档案管理

可用的电脑软件STATWIN 2002和EasyExport

统计：

可统计评估999个读数

小值、大值、测量个数、标准偏差和极限监视

局部厚度和平局膜层厚度（DIN EN ISO 2808）

在线统计，所有统计值概括

LEPTOSKOP 2042有3种配置级别：
基本型– 证明质量的基本特征                              

高级型- 附加统计评估

专业型- 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

多样的探头：

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。