第5年
菲希尔 手持式仪器的校准片
菲希尔 GOLDSCOPE SDX射线荧光仪器
菲希尔 MMS PC2测量镀层厚度和材料
菲希尔 HM2000专业级纳米压痕测量系
菲希尔 PHASCOPE PMP10 DUPLEX测厚
菲希尔 X-RAY XDV-μ SEMI晶圆微结
菲希尔 SIGMASCOPE?SMP350电导率检
用于光伏的自动XRF系统
FISCHERSCOPE? X-RAY 5000系统可以连续测量大面积基板（例如在光伏中）上薄镀层的厚度。该系列的设备由模块化单元组成，易于在生产线上安装。X-RAY5000可以在正常空气或真空中运行。此外，该设备的设计易于维护：测量头可以在不释放真空的情况下进行维修。
如果产品在制造过程中移动或凸出，可能会使测量结果发生偏差。 为此Fischer的WinFTM软件内置了距离补偿功能，该功能可以补偿高达1厘米的波动的影响，而无需额外的距离传感器。
特点
与生产控制系统相连的运行过程中的连续测量
灵活的用途：用于真空或空气中的测量； 适用于高达400°C的样品温度
可选配水冷
特别稳健的设计和结构，可在苛刻的条件下持续精确的测量
非常适合于大表面产品的镀层厚度测量和材料分析
X射线源，探测器和基本滤片都可由客户选择
符合DIN ISO 3497和ASTM的系统 B 568标准
应用
太阳能行业中CIGS，CIS，CdTe和CdS层的厚度
金属条，金属箔和塑料膜上的几微米厚的薄镀层
光伏中CIGS，CIS，CdTe和CdS层的组成
连续生产中的镀层厚度控制
溅射和电镀厂的过程监控
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